泄漏電流測(cè)量的特點(diǎn)及試驗(yàn)操作規(guī)定

泄漏電流試驗(yàn)

由于絕緣電阻測(cè)量的局限性，所以在絕緣試驗(yàn)中就出現(xiàn)了測(cè)量泄漏電阻的項(xiàng)目。由于試驗(yàn)電壓高，所以就容易暴露絕緣本身的弱點(diǎn)，用微安表直測(cè)泄漏電流，這可以做到隨時(shí)進(jìn)行監(jiān)視，靈敏度高。并且可以用電壓和電流、電流和時(shí)間的關(guān)系曲線(xiàn)來(lái)判斷絕緣的缺陷。因此，它屬于非破壞性試驗(yàn)。

由于電壓是分階段地加到絕緣物上，便可以對(duì)電壓進(jìn)行控制。當(dāng)電壓增加時(shí)，薄弱的絕緣將會(huì)出現(xiàn)大的泄漏電流，也就是得到較低的絕緣電阻。

泄漏電流測(cè)量的特點(diǎn)

測(cè)量泄漏電流的原理和測(cè)量絕緣電阻的原理本質(zhì)上是完全相同的，而且能檢出缺陷的性質(zhì)也大致相同。但由于泄漏電流測(cè)量中所用的電源一般均由高壓整流設(shè)備供給并用微安表直接讀取泄漏電流。因此，它與絕緣電阻測(cè)量相比又有自己的以下特點(diǎn)：

(1)試驗(yàn)電壓高，并且可隨意調(diào)節(jié)。測(cè)量泄漏電流時(shí)是對(duì)一定電壓等級(jí)的被試設(shè)備施以相應(yīng)的試驗(yàn)電壓，這個(gè)試驗(yàn)電壓比兆歐表額定電壓高得多，所以容易便絕緣本身的弱點(diǎn)暴露出來(lái)。因?yàn)榻^緣中的某些缺陷或弱點(diǎn)，只有在較高的電場(chǎng)強(qiáng)度下才能暴露出來(lái)。

(2)泄漏電流可由微安表隨時(shí)監(jiān)視，靈敏度高，測(cè)量重復(fù)性也較好。

(3)根據(jù)泄漏電流測(cè)量值可以換算出絕緣電阻值，而用兆歐表測(cè)出的絕緣電阻值則不可換算出泄漏電流值。因?yàn)橐獡Q算首先要知道加到被試設(shè)備上的電壓是多少，兆歐表雖然在銘牌上刻有規(guī)定的電壓值，但加到被試設(shè)備上的實(shí)際電壓并非一定是此值，而與被試設(shè)備絕緣電阻的大小有失。當(dāng)被試設(shè)備的絕緣電阻很低時(shí)，作用到被試設(shè)備-上的電壓也非常低，只有當(dāng)絕緣電阻趨于無(wú)窮大時(shí)，作用到被試設(shè)備上的電壓才接近于銘牌值。這是因?yàn)楸辉囋O(shè)備絕緣電阻過(guò)低時(shí)，兆歐表內(nèi)阻壓隆使“線(xiàn)路”端子上的電壓顯著下降。

影響測(cè)量結(jié)果的主要因素

高壓連接導(dǎo)線(xiàn)

表面泄漏電流

溫度

電源電壓的非正弦波形

加壓速度

試驗(yàn)電壓極性

測(cè)量時(shí)的操作規(guī)定

(1)按接線(xiàn)圖接好線(xiàn)，并由專(zhuān)人認(rèn)真檢查接線(xiàn)和儀器設(shè)備，當(dāng)確認(rèn)無(wú)誤后，方可通電及升壓。

2)在升壓過(guò)程中，應(yīng)密切監(jiān)視被試設(shè)備、實(shí)驗(yàn)回路及有關(guān)表計(jì)。微安表的讀數(shù)應(yīng)在升壓過(guò)程中，按規(guī)定分階段進(jìn)行，且需要有一定的停留時(shí)間，
以避開(kāi)吸收電流。

3)在測(cè)量過(guò)程中，若有擊穿、閃絡(luò)等異?，F(xiàn)象發(fā)生，應(yīng)馬上降壓，以斷開(kāi)電源，并查明原因，詳細(xì)記錄，待妥善處理后，再繼續(xù)測(cè)量

4)實(shí)驗(yàn)完畢、隆壓、斷開(kāi)電源后，均應(yīng)對(duì)被試設(shè)備進(jìn)行充分放電。

5)若是三相設(shè)備，同理應(yīng)進(jìn)行其它兩項(xiàng)測(cè)量。

6)按照規(guī)定的要求進(jìn)行詳細(xì)記錄。
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