回路電阻測(cè)試的目的

由于接觸面氧化、接觸緊固不良等原因，接觸電阻增大。當(dāng)大電流流過(guò)時(shí)，接觸點(diǎn)的溫度升高，進(jìn)一步加速了接觸面的氧化，進(jìn)一步增加了接觸電阻。如果繼續(xù)下去，就會(huì)發(fā)生嚴(yán)重的事故。因此，需要經(jīng)常或定期測(cè)量接觸電阻。

回路電阻測(cè)量測(cè)試的目的：測(cè)量閉合狀態(tài)下導(dǎo)電回路的接觸電阻，口部是否有摩擦，接觸面是否有氧化層。檢查回路是否有接觸缺陷，接觸是否良好。

實(shí)際測(cè)試場(chǎng)合：

一、高壓、中壓、低壓斷路器；

二、開(kāi)關(guān)電路電阻；

三、大電流母排（如銅排、鋁排等）連接點(diǎn)電阻，

套管連接處的接觸電阻，電纜連接點(diǎn)的電阻和焊接點(diǎn)的電阻等。

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